配電要素の絶縁の制御

配電要素の絶縁の制御開閉装置の設置または大規模な修理後の最も重要な種類のテストの 1 つは、開閉装置要素の絶縁状態の一般的な平均レベルを決定し、絶縁の弱い場所 (局所的な欠陥) を特定することです。

一次スイッチング デバイスと二次スイッチング デバイスの両方の絶縁を監視する最も一般的で簡単な方法は、メガオーム計を使用して電圧整流された絶縁抵抗値を測定することです。これらは、相間またはアースに対する相の絶縁抵抗の急激な低下を伴う、機器の絶縁の弱点を特定するのに優れています。明らかな損傷や接続がない場合、この方法で測定すると、主に湿気と汚染の観点から、断熱材の平均的な状態がわかります。

配電要素の絶縁の制御測定データによるデバイスの個々の要素の絶縁状態の評価は、同じタイプの個々の要素の個々の位相の読み取り値を相互に比較することにより、前回の現在の修理中の測定と比較する必要があります。たとえば、ある絶縁体を別の絶縁体と比較して絶縁抵抗が急激に低下した場合は、その絶縁体に欠陥が存在することを示します。

絶縁抵抗測定 メガオーム計 スイッチギヤの機器または要素から動作電圧と容量性電荷を除去した後にのみ実行できます。

変電所の吊り絶縁および支持絶縁には、特殊なロッドを使用して動作条件下で絶縁上の電圧分布を測定する方法が使用されます。特定のタイプの絶縁体の固体絶縁体の表面上の応力分布は非常に明確であり、特性曲線で表すことができます。絶縁要素の 1 つが損傷すると、電圧分布が変化します。損傷した要素では電圧が低下し、健全な要素ではそれに応じて電圧が増加します。

例として、図は、適切な絶縁体と 4 番目の絶縁体が故障した場合の 110 kV ストリングの電圧分布曲線を示しています。絶縁体に印加される電圧の大きさがロッドによって測定される場合、絶縁体を交換する必要があります。適切な絶縁体にかかる電圧と比較して、1.5 ~ 2 倍以上減少します。

一連の絶縁体の電圧分布測定の結果

絶縁体の電圧分布ストリングの測定結果: 1 — 健全な絶縁体の場合、2 — 上から 4 番目の絶縁体の故障の場合。

オイル、マスチック、ベークライトの絶縁体とブッシュが充填された高電圧の場合、絶縁体の一般的な状態は誘電損失の量によって決まります。ただし、ブッシングの絶縁状態の平均レベルを特徴付けるより便利な指標は、損失がないこと(絶縁体のサイズに応じて)と損失角の正接であり、実際には有効漏れ電流と容量性漏れ電流の比に等しいです。電流 (tgδ = Aza/Azv)、この値は特別な機器 (ブリッジ) で測定されます。

配電要素の絶縁の制御誘電損失角測定 ベークライトや紙などの吸湿性断熱材の中に空隙ができ、断熱材への水分の浸透が促進される経年劣化の様子を観察することができます。

この絶縁品質の低下につながるこれらおよびその他すべての変化は、誘電損失の増加につながります。したがって、誘電損失角の正接を決定する方法による絶縁状態の平均レベルの制御は、すべてのオイル充填絶縁体、マスチック充填絶縁体、およびベークライト絶縁体およびブッシュに必須です。磁器断熱材はその構造上、そのような管理を必要としません。

弱点を特定するために、あらゆる種類の絶縁に対する必須の一連のテストには、電圧を高めたデバイスの一次スイッチングと二次スイッチングの両方のテストが含まれます。個々のデバイスとデバイス全体のテスト電圧の大きさとテストの頻度は、容量とテストの規格によって規制されています。

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